REM & TEM sowie Zubehör (Gebrauchtgeräte)

   

    

   

   Rasterelektronenmikroskop Zeiss 1530 VP

   

   

Spezifikationen:

  • Spannung: 0,1 kV - 30 kV
  • Vergrößerung: 20 - 900.000x
  • Auflösung: 1,0nm
  • max. Sondenstrom: 10 nA
  • max. Probengröße: Ø 150 mm

   

   

   

   

   Rasterelektronenmikroskop FEI Quanta 600 ESEM FEG

   

   

  

   

   

   

   Feldemissionsgerät Hitachi S5200 FESEM

   

   

   

   

   

   

   Rasterelektronenmikroskop REM Philips FEI XL20

   

    

Spezifikationen:

  • Spannung: 1kV - 30kV
  • Vergrößerung: 12 - 200.000x
  • Detektoren: SE, BSE
  • Auflösung: 3,5nm (bei 30kV), SEI mode

Optionen:

  • EDX
  • SDD-Detektor

   


      

   

   

   Rasterelektronenmikroskop REM Philips FEI XL 40

   

   

Spezifikationen:

  • Spannung: 1kV - 30kV
  • Vergrößerung: 12 - 200.00x
  • Detektoren: SE, BSE und EDX
  • Auflösung: 35nm (bei 30kV), SEI mode

Optionen:

  • SDD-Detektor

   

   
   

       

   

   Rasterelektronenmikroskop REM Jeol JSM 6300 PC 

   

   

Spezifikationen:

  • PC-gesteuert
  • Spannung: 0,2kV - 30kV
  • Vergrößerung: 10x - 300.000x
  • Detektoren: SE, BSE
  • Auflösung: 3,5nm (bei 30kV)

Optionen:

  • EDX

   

       

   

   SDD-Detektor (gebraucht)

   

  • Flansch passend für Hitachi/JEOL/Zeiss
  • Auflösung < 133 eV, Mn, 1000 cps
  • Analyse ab Bor
  • Dünnschichtfenster AP3.3
  • 10 mm² oder 30 mm²

   

   

   

   Sputteranlage (gebraucht)

   

   

Immer wechselnde Anlagen im Angebot! Bitte rufen Sie an!

   

   

   

   

   Umlaufkühler/Kühlmobil (gebraucht)

    

   

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